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Mallett, Gavin R. / John B. Newkirk. Advances in X-Ray Analysis - Volume 10. Springer US, 2012.

eng

Gavin R. Mallett / John B. Newkirk

Advances in X-Ray Analysis

Volume 10

Springer US
2012

Taschenbuch
572 Seiten
ISBN 9781468478372

The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses sions, Professor R. A. Young, made the following remarks at the conclusion of his session. We think they are quite appropriate to the occasion and with his permission we reproduce them here.