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Goldstein, Joseph / Newbury, Dale E et al. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Third Edition. Springer Nature Singapore, 2003.
eng

Joseph Goldstein / Dale E Newbury / David C Joy / Charles E Lyman / Patrick Echlin / Eric Lifshin / Linda Sawyer / J R Michael

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Third Edition
  • Springer Nature Singapore
  • 2003
  • Gebunden
  • 689 Seiten
  • ISBN 9780306472923

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