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Cookie akzeptierenScanning Microscopy for Nanotechnology
- Springer New York
- 2010
- Taschenbuch
- 536 Seiten
- ISBN 9781441922090
This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book is written by international experts from the top nano- research groups that specialize in nanomaterials characterization. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.
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