Der Perlentaucher unter den Buchläden

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  1. Physical Principles of Electron Microscopy
    eng
    R. F. Egerton
    Physical Principles of Electron Microscopy
    An Introduction to TEM, SEM, and AEM
    • Springer
    • 2016
    • Gebunden
    • 208 Seiten
    96,29€

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    Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semicond…