Du, Xiong / Zhang, Jun et al. Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System. Springer Nature Singapore, 2022.
eng

Xiong Du / Jun Zhang / Rui Du / Yaoyi Yu / Cheng Qian / Gaoxian Li

Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System

  • Springer Nature Singapore
  • 2022
  • Gebunden
  • 188 Seiten
  • ISBN 9789811931314

in Kürze

Andere Ausgaben
Taschenbuch

in Kürze