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Cookie akzeptieren![Wagner, R.. Field-Ion Microscopy. Springer Berlin Heidelberg, 2011.](https://eichendorff21.de/cdata/niS_bT-PCDgqwLFNYjuxK991CLg=/300x0/9783642686894.png)
R. Wagner
Field-Ion Microscopy
- Springer Berlin Heidelberg
- 2011
- Taschenbuch
- 132 Seiten
- ISBN 9783642686894
Despite the recent progress in developing various microanalytical tools of better spatial resolution and more sensitivity to chemical analyses for the study of various defects in metallic solids the Field-Ion Microscope (FIM) still remains the only instrument up to now to resolve single atoms in the surface of a metal. Fifteen years after Milller!) invented the FIM he was also the first to combine the FIM with a time-of-flight (ToF) mass spectrometer - the so-called Atom-Probe FlM - to identify the chemical nature of single atoms imaged in the FIM2). Originally the motivation to develop the ToF atom probe was to use this method to obtain
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