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Cookie akzeptierenGörschwin Fey / Mehdi Dehbashi
Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
- Springer International Publishing
- 2014
- Gebunden
- 188 Seiten
- ISBN 9783319093086
This book describes automated debugging approaches for the bugs and the faults which appear in different abstraction levels of a hardware system. The authors employ a transaction-based debug approach to systems at the transaction-level, asserting the correct relation of transactions. The automated debug approach for design bugs finds the potential fault candidates at RTL and gate-level of a circuit. Debug techniques for logic bugs and synchronization bugs are demonstrated, enabling readers to localize the most difficult bugs. Debug automation for electrical faults (delay faults)finds the potentially failing speedpaths in a circuit at gate-level. The various debug approaches described achieve high diagnosis accuracy and reduce the debugging
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