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Echlin, Patrick / Fiori, C. E. et al. Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Springer US, 2013.

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Patrick Echlin / C. E. Fiori / Dale E. Newbury / David C. Joy / Joseph Goldstein

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Springer US
2013

Taschenbuch
476 Seiten
ISBN 9781475790290

106,99 €

inkl. MwSt.
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