Für statistische Zwecke und um bestmögliche Funktionalität zu bieten, speichert diese Website Cookies auf Ihrem Gerät. Das Speichern von Cookies kann in den Browser-Einstellungen deaktiviert werden. Wenn Sie die Website weiter nutzen, stimmen Sie der Verwendung von Cookies zu.
Cookie akzeptieren![Barrett, Charles S. / Ron Jenkins et al (Hrsg.). Advances in X-Ray Analysis - Volume 33. Springer US, 2012.](https://eichendorff21.de/cdata/qGzlrv_48zXj4TR2itEHF3U6zaA=/300x0/9781461399988.png)
Advances in X-Ray Analysis
- Springer US
- 2012
- Taschenbuch
- 728 Seiten
- ISBN 9781461399988
The 38th Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 31 - August 4, 1989, at the Sheraton Denver Technical Center, Denver, Colorado. The conference alternates emphasis between x-ray diffraction and x-ray fluorescence, and this being an odd year the emphasis was on diffraction. Thus the Plenary Session was slanted toward diffraction in general and thin film analysis in particular. The Plenary Session on x-ray analysis of thin films did not just happen this year but really began four years ago with Paul Predecki suggesting a special session devoted to thin film techniques. The session generated a great deal of interest, so Paul
Mehr
Weniger
zzgl. Versand
in Kürze